[发明专利]ATE测试板及基于ATE测试板的电子元器件设置方法有效
| 申请号： | 201811052715.6 | 申请日： | 2018-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN109001617B | 公开（公告）日： | 2023-08-01 |
| 发明（设计）人： | 何菊;罗雄科 | 申请（专利权）人： | 上海泽丰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;H05K1/18 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 200233 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ATE测试板，包括：从上至下依次设置的顶层，中间层，以及底层；凹部，其从所述底层向所述中间层延伸设置；电子元器件，其设于所述凹部内；所述顶层与所述底层通过所述电子元器件电气连接。因此，同本申请的在测试板的底部开设一个凹部，并将电子元器件放置在凹槽内，实现电气连接，这种电路结构的改进，缩短了过孔长度，实现信号链路阻抗的高精度控制，优化了插损回损，保证测试系统高速信号的完整性。 | ||
| 搜索关键词： | ate 测试 基于 电子元器件 设置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种ATE测试板，其特征在于，包括：从上至下依次设置的顶层，中间层，以及底层；凹部，其从所述底层向所述中间层延伸设置；电子元器件，其设于所述凹部内；所述顶层与所述底层通过所述电子元器件电气连接。
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