[发明专利]磁阻随机存取存储器件有效

专利信息
申请号: 201811060554.5 申请日: 2018-09-12
公开(公告)号: CN109560191B 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: 李俊明;金柱显;朴正桓;吴世忠;张荣万 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H10N50/10 分类号: H10N50/10;H10N50/01;H10N50/80;H10B61/00;G11C11/16
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 弋桂芬
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种磁阻随机存取存储(MRAM)器件,该MRAM器件包括:下电极;阻挡图案,在下电极上并包括处于非晶态的二元金属硼化物;籽晶图案,在阻挡图案上并包括金属;在籽晶图案上的MTJ结构;以及在MTJ结构上的上电极。
搜索关键词: 磁阻 随机存取存储器
【主权项】:
1.一种磁阻随机存取存储器件,包括:下电极;在所述下电极上的阻挡图案,所述阻挡图案包括处于非晶态的二元金属硼化物;在所述阻挡图案上的籽晶图案,所述籽晶图案包括金属;在所述籽晶图案上的磁隧道结结构;以及在所述磁隧道结结构上的上电极。
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