[发明专利]一种LED闪灯类芯片测试系统在审
| 申请号： | 201811067795.2 | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN109490747A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 潘中荣;姜胜林;赵俊;康远潺;朱锦茂 | 申请（专利权）人： | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R19/00;G01R23/02 |
| 代理公司： | 深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405 | 代理人： | 李想 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LED闪灯类芯片测试系统，包括MCU模块与FPGA模块，OS测试模块，用于检测IC管脚上的保护二极管是否完好；IDD测试模块，用于测试LED闪灯芯片工作时的电流大小，评估芯片工作时的功率损耗；SINK CURRENT测试模块，用于测试LED闪灯芯片输出驱动电流大小；FREQ测试模块，用于测量LED闪灯芯片的工作主频率。本发明所述的一种LED闪灯类芯片测试系统，实现了对该类芯片IC的全功能参数测试，为该类IC的实际测试生产提供了一种低成本的测试解决方案，同时，在实际的生产过程中，解决了通用测试设备成本高等方面的不足，使生产测试的灵活性和并行测试SITE数大大提高，缩短生产测试周期，节约成本，极大的提高产品利润率，带来更好的使用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 测试模块 芯片测试系统 闪灯芯片 闪灯 测试 生产测试 输出驱动电流 通用测试设备 产品利润率 二极管 并行测试 参数测试 功率损耗 评估芯片 生产过程 低成本 全功能 芯片IC 主频率 测量 检测 节约 生产 | ||
【主权项】：
1.一种LED闪灯类芯片测试系统，其特征在于：包括：MCU模块；FPGA模块；OS测试模块，用于检测IC管脚上的保护二极管是否完好；IDD测试模块，用于测试LED闪灯芯片工作时的电流大小，评估芯片工作时的功率损耗；SINKCURRENT测试模块，用于测试LED闪灯芯片输出驱动电流大小；FREQ测试模块，用于测量LED闪灯芯片的工作主频率；Func功能测试模块，用于测试LED闪灯芯片工作时的功能是否正常；USB通信模块模块，用于完成电脑端软件与测试系统间的通信；TTL通讯接口模块，用于实现本系统与机械手或分选机设备之间的通讯连接，进行自动化批量生产。
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