[发明专利]一种OS测试系统在审
| 申请号： | 201811068324.3 | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN109490748A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 范旭阳;姜胜林;赵俊;王元登;康远潺 | 申请（专利权）人： | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405 | 代理人： | 李想 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种OS测试系统，包括MCU模块、FPGA模块和待测试芯片IC，MCU模块包括PC端软件通讯模块、USB通信模块、PMU控制模块、TTL接口通讯模块与STM32数据通讯模块，FPGA模块包括测试通道选择模块与FPGA数据通讯模块；USB通信模块用于实现PC端软件通讯与STM32的数据通讯端口之间的物理连接；PC端软件通讯用于实现显示OS测试系统工作过程中检测到的芯片相关信息。本发明所述的一种OS测试系统，降低了检测集成电路芯片IC的成本，在实际的生产过程中，解决了通用测试设备自身体积大、控制程序繁琐、成本高等方面的不足，使生产测试的灵活性和并行测试SITE数大大提高，缩短生产测试周期，节约成本，极大的提高生产效率，带来更好的使用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 测试系统 数据通讯模块 生产测试 通讯模块 控制程序 测试通道选择 集成电路芯片 数据通讯端口 通用测试设备 待测试芯片 并行测试 控制模块 生产过程 生产效率 物理连接 相关信息 检测 通讯 芯片 节约 | ||
【主权项】：
1.一种OS测试系统，包括MCU模块、FPGA模块和待测试芯片IC，其特征在于，MCU模块包括PC端软件通讯模块、USB通信模块、PMU控制模块、TTL接口通讯模块与STM32数据通讯模块，FPGA模块包括测试通道选择模块与FPGA数据通讯模块；USB通信模块用于实现PC端软件通讯与STM32的数据通讯端口之间的物理连接；PC端软件通讯用于实现显示OS测试系统工作过程中检测到的芯片相关信息；PMU控制模块用于控制OS测试系统的测试过程；TTL接口通讯模块用于实现OS测试系统与机械手或分选机设备之间的通讯连接；FPGA数据通讯模块用于实现MCU模块中相关信息的转化与处理并将信息输入FPGA模块过程；测试通道选择模块用于实现OS测试系统测试芯片过程中三种不同的测试方法顺序的选择；STM32数据通讯模块用于实现各个模块间信息传输转化。
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