[发明专利]芯片测试连接装置和芯片测试系统在审
| 申请号： | 201811069678.X | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN110895305A | 公开（公告）日： | 2020-03-20 |
| 发明（设计）人： | 陆玉斌 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体技术领域，提出一种芯片测试连接装置，多个连接器的各个连接器具有相对设置的第一端和第二端，第一端固定于加载电路板上，第二端为弹性触头用于连接芯片；多个导板，固定于加载电路板上，用于承载芯片。连接器直接与加载电路板连接，相比现有技术，该芯片测试连接装置取消了芯片测试座装置可以达到拆装方便、降低了维修难度、提升了测试效率和减少硬件成本等效果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 连接 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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