[发明专利]一种硅光电倍增管测试平台有效
| 申请号： | 201811070258.3 | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN108983282B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 吕绮雯;吴和宇 | 申请（专利权）人： | 江苏赛诺格兰医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 11613 北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 韩国胜 |
| 地址： | 225200 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明属于光电子测试技术领域，尤其涉及一种硅光电倍增管测试平台。硅光电倍增管测试平台包括光源系统、硅光电倍增管系统、电压控制系统和采集分析控制系统；硅光电倍增管系统的电路板上设置有与硅光电倍增管相对应的限位框，限位框的限位空间的底部设置有具有压缩行程的触点；在硅光电倍增管测试过程中，将硅光电倍增管装设在限位框内，实现了每次硅光电倍增管重复放入确定位置，便于快速地更换硅光电倍增管、重复测量、形成批量测试，硅光电倍增管通过具有压缩行程的触点与电路板连接，实现了硅光电倍增管与电路板之间的柔性连接，保证了两者之间连接的可靠性，避免了硅光电倍增管不会在该过程中被压碎或划伤。 | ||
| 搜索关键词： | 硅光电倍增管 测试平台 限位框 电路板 压缩行程 触点 测试技术领域 电压控制系统 分析控制系统 电路板连接 测试过程 光源系统 批量测试 柔性连接 限位空间 重复测量 光电子 放入 划伤 压碎 采集 重复 保证 | ||
【主权项】：
1.一种硅光电倍增管测试平台，其特征在于：包括光源系统、硅光电倍增管系统、电压控制系统和采集分析控制系统；/n其中，硅光电倍增管系统包括电路板、夹持工装和光导；/n电路板上设置有与硅光电倍增管相对应的限位框，限位框形成限位空间，并且在限位空间的底部设置有具有压缩行程的触点；/n在硅光电倍增管测试过程中，硅光电倍增管装设在限位框内，硅光电倍增管的触点与具有压缩行程的触点连接；/n光导位于夹持工装的一端，电路板插接在夹持工装的另一端。/n
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