[发明专利]3D存储器件在审

专利信息
申请号: 201811130282.1 申请日: 2018-09-27
公开(公告)号: CN109119425A 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 骆中伟;何佳;韩玉辉;刘藩东;华文宇;夏志良 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11573 分类号: H01L27/11573;H01L27/11578
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;张靖琳
地址: 430074 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种3D存储器件。该3D存储器件包括:衬底;位于所述衬底上方的栅叠层结构,所述栅叠层结构包括交替堆叠的多个栅极导体和多个第一层间绝缘层;沿垂直于所述衬底的方向穿过所述栅叠层结构的绝缘叠层结构,所述绝缘叠层结构包括交替堆叠的多个牺牲层和多个第二层间绝缘层;沿垂直于所述衬底的方向穿过所述栅叠层结构的隔离层,所述隔离层环绕所述绝缘叠层;贯穿所述栅叠层结构的多个沟道柱;以及贯穿所述绝缘叠层结构的导电通道,其中,所述隔离层的外侧壁的至少一部分为平滑曲面。该3D存储器件采用平滑曲面的隔离层,从而可以避免隔离层中形成孔洞导致栅极导体与导电通道之间的短路,可以提高3D存储器件的良率和可靠性。
搜索关键词: 栅叠层结构 存储器件 隔离层 绝缘叠层 衬底 导电通道 交替堆叠 栅极导体 绝缘层 垂直 孔洞 穿过 层间绝缘层 平滑曲面 第一层 外侧壁 牺牲层 短路 贯穿 平滑 沟道 良率 环绕 申请
【主权项】:
1.一种3D存储器件,包括:衬底;位于所述衬底上方的栅叠层结构,所述栅叠层结构包括交替堆叠的多个栅极导体和多个第一层间绝缘层;沿垂直于所述衬底的方向穿过所述栅叠层结构的绝缘叠层结构,所述绝缘叠层结构包括交替堆叠的多个牺牲层和多个第二层间绝缘层;沿垂直于所述衬底的方向穿过所述栅叠层结构的隔离层,所述隔离层环绕所述绝缘叠层;贯穿所述栅叠层结构的多个沟道柱;以及贯穿所述绝缘叠层结构的导电通道,其中,所述隔离层的外侧壁的至少一部分为平滑曲面。
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