[发明专利]一种分离与测定1-氟萘及相关杂质的方法有效

专利信息
申请号: 201811133247.5 申请日: 2018-09-27
公开(公告)号: CN109100453B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 肖伟平;蔡泽宇;王正雄;孟宪华;胡伟;张阳玲;孙向阳;纪瑞雪 申请(专利权)人: 湖北省宏源药业科技股份有限公司
主分类号: G01N30/06 分类号: G01N30/06;G01N30/88
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 438600 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于分析化学领域,具体涉及一种分离与测定1‑氟萘及相关杂质的方法。所述的分离方法是采用十八烷基硅烷键合硅胶为固定相,以乙腈和碱性缓冲盐溶液为流动相进行分离,乙腈水溶液为稀释剂,该方法能够实现1‑氟萘及相关杂质的有效分离;所述的测定方法是采用高效液相色谱法,取供试品加稀释剂制成供试品溶液,再取供试品溶液加稀释剂按一定倍数稀释得自身对照溶液,分别取供试品溶液及自身对照溶液采用上述的固定相和流动相进行分析,记录色谱图,按加校正因子的自身对照法计算供试品中1‑氟萘及相关杂质的含量。不仅能够实现1‑氟萘及相关杂质的有效分离,而且能够准确测定1‑氟萘及相关杂质的含量,且操作简便,快速,准确度高。
搜索关键词: 一种 分离 测定 相关 杂质 方法
【主权项】:
1.一种分离1‑氟萘及相关杂质的方法,其特征在于,所述的方法采用十八烷基硅烷键合硅胶为固定相,以乙腈和碱性缓冲盐溶液为流动相进行分离。
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