[发明专利]芯片与芯片测试系统在审
| 申请号： | 201811137174.7 | 申请日： | 2018-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN109164374A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供一种芯片和芯片测试系统。芯片具有解码模块和测试模式控制模块，在对输入信号进行解码后判断该输入信号为预激活信号则响应后续测试信号，否则不响应后续测试信号。本公开提供的芯片和芯片测试方法通过设置预激活信号可以在尽量节省I/O接口的条件下使测试设备一次性连接更多芯片，并能够实现对每个芯片的单独测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 芯片测试系统 测试信号 激活信号 一次性连接 测试模式 测试设备 解码模块 控制模块 芯片测试 解码 多芯片 响应 测试 | ||
【主权项】：
1.一种芯片，通过实体信号线和数据信号线耦接于测试设备，其特征在于，包括：解码模块，耦接于所述实体信号线，用于对来自所述实体信号线上的第一输入信号进行解码并输出测试模式信号或测试指令信号，所述测试模式信号先于所述测试指令信号出现；测试模式控制模块，耦接于所述解码模块和所述数据信号线，用于根据所述测试模式信号和所述数据信号线上的第二输入信号设置测试模式；测试指令执行模块，耦接于所述解码模块、所述测试模式控制模块和所述数据信号线，用于根据所述测试模式响应所述测试指令信号或在所述测试模式被设置为无时不响应所述测试指令信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司，未经长鑫存储技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811137174.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于测试线材通断的方法
- 下一篇：一种电子设备电路板测试装置
