[发明专利]芯片测试方法、装置、设备与系统在审
| 申请号： | 201811137182.1 | 申请日： | 2018-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN110967613A | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供一种芯片测试方法、装置、设备与系统。芯片测试系统包括：测试设备，包括n条片选信号线和m组实体信号线；m*n个芯片测试位，每个所述芯片测试位耦接于所述n条片选信号线中的一条和所述m组实体信号线中的一组，且每个所述芯片测试位的信号线耦接关系不相同。本公开实施例可以用有限的测试设备引脚对多个芯片实现单独控制。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 设备 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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