[发明专利]扩散阻障结构、导电迭层及其制法有效

专利信息
申请号: 201811140140.3 申请日: 2018-09-28
公开(公告)号: CN110970393B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 卫子健;王伟彦 申请(专利权)人: 卫子健
主分类号: H01L23/532 分类号: H01L23/532;H01L21/768
代理公司: 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 代理人: 武玉琴;冷文燕
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种扩散阻障结构、导电迭层及其制法。导电迭层包括一基板、一扩散阻障结构以及一导电层,扩散阻障结构形成于基板和导电层之间,扩散阻障结构包括一非连续改质层以及一阻障层,非连续改质层设置于所述基板上,所述非连续改质层的材料是一具有亲水基的高分子;阻障层设置于所述基板和所述非连续改质层上,所述阻障层的材料至少包括一自修复高分子。扩散阻障结构可阻障金属原子的扩散,避免导电迭层在加工热处理时,因温度升高导致导电迭层的特性退化或毁损。
搜索关键词: 扩散 阻障 结构 导电 及其 制法
【主权项】:
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