[发明专利]封装结构及半导体工艺方法在审

专利信息
申请号: 201811168844.1 申请日: 2018-10-08
公开(公告)号: CN110783293A 公开(公告)日: 2020-02-11
发明(设计)人: 林孝羲 申请(专利权)人: 台达电子工业股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/538;H01L23/367;H01L21/50;H01L21/768
代理公司: 72003 隆天知识产权代理有限公司 代理人: 聂慧荃;闫华
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种封装结构,包含金属载板、设置于金属载板上的导电粘着层、设置于导电粘着层上的导电体、设置于导电粘着层上且与导电体横向隔开的半导体芯片、以及设置于导电体和半导体芯片上的重布线层。半导体芯片包含位于半导体芯片的上表面的第一端点。半导体芯片的第一端点透过重布线层、导电体和导电粘着层电性连接至半导体芯片的底面。借此,半导体芯片的效能可得到改善。
搜索关键词: 半导体芯片 导电体 粘着层 导电 金属载板 重布线层 电性连接 封装结构 横向隔开 上表面 底面
【主权项】:
1.一种封装结构,包括:/n一金属载板;/n一导电粘着层,设置于该金属载板上;/n一导电体,设置于该导电粘着层上;/n一半导体芯片,设置于该导电粘着层上且与该导电体横向隔开,其中该半导体芯片包括位于该半导体芯片的上表面的一第一端点;以及/n一重布线层,设置于该导电体和该半导体芯片上,其中该半导体芯片的该第一端点透过该重布线层、该导电体和该导电粘着层电性连接至该半导体芯片的底面。/n
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