[发明专利]一种基于灰度共生矩阵的像质计偏离角度检测方法在审

专利信息
申请号: 201811169379.3 申请日: 2018-10-08
公开(公告)号: CN109300129A 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 昌亚胜;汪军 申请(专利权)人: 苏州宏凡信息科技有限公司;昌亚胜
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/136
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 高博
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于灰度共生矩阵的像质计偏离角度检测方法,获得数字化的焊缝射线底片,然后将射线照相拍摄的胶片转换成数字化底片;对获得的焊缝数字化底片进行预处理;计算焊缝射线图像的灰度共生矩阵;绘制每个角度对应的相关性特征值随角度变化的图谱;找出最大相关性特征值的角度;根据相关性特征值最大的点对应的角度确定像质计偏离角度。本发明可以快速准确地计算出图像中像质计的偏离角度,亦可应用到其他涉及图像中直线角度的计算。
搜索关键词: 像质计 灰度共生矩阵 偏离 底片 焊缝射线 角度检测 数字化 图像 预处理 角度变化 角度确定 焊缝 胶片 射线 图谱 照相 绘制 拍摄 转换 应用
【主权项】:
1.一种基于灰度共生矩阵的像质计偏离角度检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、获得数字化的焊缝射线底片,然后将射线照相拍摄的胶片转换成数字化底片;S2、对步骤S1获得的焊缝数字化底片进行预处理;S3、计算焊缝射线图像的灰度共生矩阵;S4、绘制每个角度对应的相关性特征值随角度变化的图谱;S5、找出最大相关性特征值的角度;S6、根据相关性特征值最大的点对应的角度确定像质计偏离角度。
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