[发明专利]半导体器件及其制造方法及包括该器件的电子设备有效

专利信息
申请号: 201811171546.8 申请日: 2018-10-08
公开(公告)号: CN109360824B 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 朱慧珑 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H01L21/822
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 倪斌
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 公开了一种紧凑的竖直型半导体器件及其制造方法以及包括这种半导体器件的电子设备。根据实施例,竖直型半导体器件可以包括:多个彼此叠置的竖直型单元器件,各单元器件包括相应的横向延伸的栅堆叠,其中各栅堆叠包括主体、端部以及主体与端部之间的连接部,其中在俯视图中连接部的外周相对于主体和端部的外周收缩;以及位于各栅堆叠的端部上与端部相接触的接触部。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制造 方法 包括 器件 电子设备
【主权项】:
1.一种竖直型半导体器件,包括:多个彼此叠置的竖直型单元器件,各单元器件包括相应的横向延伸的栅堆叠,其中各栅堆叠包括主体、端部以及主体与端部之间的连接部,其中在俯视图中连接部的外周相对于主体和端部的外周收缩;以及位于各栅堆叠的端部上与端部相接触的接触部。
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