[发明专利]半导体元件有效

专利信息
申请号: 201811172248.0 申请日: 2018-10-09
公开(公告)号: CN110707086B 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 永井享浩 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体元件,其主要包含一浅沟隔离设于一基底内以及一第一栅极结构设于该浅沟隔离上,其中第一栅极结构又包含一第一水平部设于该浅沟隔离上、一垂直部连接该第一水平部并延伸至部分该浅沟隔离内以及一第二水平部连接该垂直部。此外半导体元件又包含一第一间隙壁设于第一栅极结构一侧壁以及浅沟隔离上,以及一第二间隙壁设于第一栅极结构另一侧壁及第二水平部上。
搜索关键词: 半导体 元件
【主权项】:
1.一种半导体元件,其特征在于,包含:/n浅沟隔离,设于基底内;/n第一栅极结构,设于该浅沟隔离上,其中该第一栅极结构包含:/n第一水平部,设于该浅沟隔离上;/n垂直部,连接该第一水平部并延伸至部分该浅沟隔离内;以及/n第二水平部,连接该垂直部。/n
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