[发明专利]一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法在审
| 申请号： | 201811172294.0 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN109283105A | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 李星辉;吴豪 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N15/04 | 分类号： | G01N15/04 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 梁嘉琦 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法。包括用于电离空气的电离模块和用于测量的测量模块。电离模块包括电离区域和高压放电针，测量模块包括带电的石英晶片和滤膜，还包括测量石英晶片谐振频率的频率测量装置和测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。电离模块与测量模块连接，使颗粒物电离后能附着于用作集尘极的石英晶片中，并利用采集的数据计算出沉降效率，为最佳电极参数的确定提供了数据基础。 | ||
| 搜索关键词： | 电离 颗粒物 测量模块 沉降效率 质量测量装置 沉降 滤膜 测量 频率测量装置 质量检测装置 高压放电针 测量石英 电极参数 电离空气 电离区域 石英晶片 数据基础 数据计算 谐振频率 集尘极 检测 带电 附着 晶片 石英 采集 | ||
【主权项】：
1.一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于，包括：用于电离空气的电离模块和用于测量沉降颗粒物的质量变化值的测量模块；所述电离模块包括电离区域和设置于电离区域中的高压放电针；所述测量模块包括带电的石英晶片和用于测量石英晶片的谐振频率的频率测量装置，所述石英晶片设置于电离区域下侧；还包括用于收集未被沉降颗粒物的滤膜和用于测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。
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