[发明专利]一种提高激光打标系统调试精度的方法

摘要

本发明涉及激光加工领域，具体涉及一种提高激光打标系统调试精度的方法，用于需要进行大幅面高精度加工的激光打标设备。通过将加工面中心与打标区域中心重合、将×字标记和CCD拍照区域中心的十字光标重合，完成打标区域工件中心坐标和拍照区域工件中心坐标的粗标定，然后将粗标定的中心点位坐标与激光加工系统中的十字光标原点进行判定并反馈来回优化，使加工面中心点位于激光加工和图像采集处的中心点，有利于提高工件的边缘位置与中心位置的加工效果一致，也有助于减小镜头畸变对加工精度的负面影响，提高CCD采集图像的精度，并且不依赖工程师的细心调试，提高了调试的效果和效率。

主权项

1.一种提高激光打标系统调试精度的方法，用于需要进行大幅面高精度加工的激光打标设备，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、将工件的加工面中心与打标机的打标区域中心重合，获取打标区域工件中心坐标(X1,Y1)；步骤2、打标机在加工面上打出“×”字标记；步骤3、移动机械平台，将”×”字标记和CCD的拍照区域中心的十字光标对准，并获取拍照区域工件中心坐标(X2,Y2)；步骤4、调整CCD模板，并作CCD标定；步骤5、CCD相机拍照生成工件的轮廓，并在激光加工系统上得到工件的加工面中心点坐标为(X0,Y0)；步骤6、在激光加工系统中以十字光标为原点，判断|X0|是否大于0.005，且|Y0|是否大于0.005；若是，则结束调试开始激光加工；若否，修正打标区域工件中心坐标和拍照区域工件中心坐标分别为(X1’,Y1’)和(X2’,Y2’)并返回步骤4重新调整CCD模板和CCD标定；其中，X1’＝X1‑X0，Y1’＝Y1‑Y0；X2’＝X2‑X0，Y2’＝Y2‑Y0。