[发明专利]存储器模块、操作其的方法和存储器模块的测试系统有效
| 申请号： | 201811188183.9 | 申请日： | 2018-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN109671464B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 朴焕旭;金龙进;尹珍成;李奎东 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 存储器模块包括半导体存储器设备、电源管理集成电路(PMIC)和控制设备。安装在电路板上的半导体存储器设备基于电源电压操作。安装在电路板上的PMIC生成电源电压，向半导体存储器设备提供电源电压，并存储与在测试模式下半导体存储器设备正常操作时的电源电压的最小电平相关联的修调控制码。在测试模式期间，PMIC调整电源电压的电平，使用调整的电源电压测试半导体存储器设备，并基于测试结果存储调整控制码。控制设备基于从外部设备接收的第一控制信号来控制PMIC。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 模块 操作 方法 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种存储器模块，包括：多个半导体存储器设备，安装在电路板上，其中所述多个半导体存储器设备基于电源电压操作；电源管理集成电路(PMIC)，安装在电路板上，其中PMIC被配置为使用输入电压生成电源电压，被配置为向所述多个半导体存储器设备提供电源电压，并且被配置为存储与第一目标电平相关联的修调控制码，所述第一目标电平与当所述多个半导体存储器设备在测试模式下正常操作时的电源电压的最小电平相对应，以及控制设备，被配置为响应于从外部设备接收的第一控制信号来控制PMIC，其中，在测试模式期间，PMIC被配置为调整电源电压的电平，被配置为使用调整的电源电压测试半导体存储器设备，并且被配置为基于测试的结果存储修调控制码。
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