[发明专利]光学测量装置及光学测量方法有效
| 申请号： | 201811194957.9 | 申请日： | 2018-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN110058249B | 公开（公告）日： | 2023-09-15 |
| 发明（设计）人： | 梶井阳介;的场贤一;近藤智则 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨文娟;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学测量装置及光学测量方法，可容易地去除在对象物的一部分中所测量的距离中可能产生的噪声。光学测量装置(100)具备：光源(10)，发出光；光接收部(40)，检测由对象物(TA)反射的反射光的光接收量；测量部(51)，根据反射光的光接收量，测量从光学测量装置(100)至对象物(TA)为止的距离；以及检测部(52)，检测反射光的每单位时间的光接收量小于阀值的对象物(TA)的一部分。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学测量装置，其特征在于，包括：光源，发出光；光接收部，检测由对象物反射的反射光的光接收量；测量部，根据所述反射光的光接收量，测量从所述光学测量装置至所述对象物为止的距离；以及检测部，检测所述反射光的每单位时间的光接收量小于阀值的所述对象物的一部分。
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