[发明专利]分析系统以及光学元件的更换时期判定方法在审
| 申请号： | 201811202954.5 | 申请日： | 2018-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN109682755A | 公开（公告）日： | 2019-04-26 |
| 发明（设计）人： | 图子纯平 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01J3/02;G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够适当地保持由光检测器检测的光的光量的分析系统以及该分析系统中的光学元件的更换时期判定方法。分析系统(10)具备多个分光光度计(1)、存储装置(11)和管理终端(12)。在分光光度计(1)中设置有光源部(2)、光检测器和用于将来自光源部的光引导到光检测器的光学元件。在存储装置(11)中，当在各分光光度计中更换了光源的情况下，将与刚更换之后由光检测器(6)检测的光的光量相关的信息存储为管理信息(110)。管理终端(12)的更换时期判定部(125)读出存储装置的管理信息(110)，基于所读出的管理信息的光量信息(113)的值，判定光学元件的更换时期。因此，能够正确地判定分光光度计中的光学元件的更换时期。 | ||
| 搜索关键词： | 光学元件 分光光度计 分析系统 光检测器 管理信息 判定 存储装置 管理终端 光源部 光量 读出存储 光量信息 信息存储 光引导 判定部 检测 读出 光源 | ||
【主权项】：
1.一种分析系统，其特征在于，具备：光源，其射出在分析中使用的光；光学元件，其使从所述光源射出的光反射或者透射；光检测器，其检测由所述光学元件反射或者透射后的光；更换时期判定部，其基于在更换了所述光源时由所述光检测器检测出的光的光量，判定所述光学元件的更换时期。
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