[发明专利]等离子体处理装置在审

专利信息
申请号: 201811215149.6 申请日: 2018-10-18
公开(公告)号: CN109786201A 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 成正模;吴相录;李恩雨;金光男;宣钟宇;洪定杓 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王新华
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了一种等离子体处理装置,用于在等离子体工艺期间控制腔室的边缘区域处的等离子体分布,从而对半导体基板可靠地执行等离子体工艺。该等离子体处理装置包括:腔室,包括限定反应空间的外壁和覆盖外壁的上部的窗口;线圈天线,设置在窗口之上并包括至少两个线圈;以及静电吸盘(ESC),设置在腔室的下部中,其中电极位于ESC内,其中该电极包括第一电极和至少一个第二电极,该第一电极用于吸附,该至少一个第二电极提供在ESC的内部的边缘处从而相对于ESC的顶表面具有倾斜。
搜索关键词: 等离子体处理装置 等离子体工艺 第二电极 第一电极 电极 腔室 外壁 等离子体分布 半导体基板 边缘区域 反应空间 静电吸盘 控制腔室 线圈天线 边缘处 顶表面 吸附 覆盖
【主权项】:
1.一种等离子体处理装置,该等离子体处理装置包括:腔室,包括外壁和窗口,所述外壁限定其中形成等离子体的反应空间,所述窗口覆盖所述外壁的上部;线圈天线,设置在所述窗口之上,所述线圈天线包括至少两个线圈;以及静电吸盘(ESC),设置在所述腔室的下部中,其中:要被处理的物体可支撑在所述ESC的顶表面上,并且电极位于所述ESC内,并且所述电极包括第一电极和至少一个第二电极,该第一电极用于保持所述物体,所述第一电极提供在所述ESC的内部中央部分中从而与所述ESC的所述顶表面平行,所述至少一个第二电极提供在所述ESC的内部的边缘处从而相对于所述ESC的所述顶表面具有倾斜。
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