[发明专利]一种本振泄漏校正装置和方法

摘要

本发明提出一种本振泄漏校正装置和方法，利用装置本身的资源进行自校正，校正装置包括校正模块、本振泄漏检测模块、校正算法控制电路和校正参数存储模块；所述本振泄漏检测模块用于检测本振泄漏的信号强度；所述校正算法控制电路用于实现校正参数的逐次逼近算法获得校正参数；所述校正模块用于将校正算法控制电路的输出值或者校正参数存储模块中的存储值作为发射IQ直流的方向校正值，从而达到对本振泄漏校正的目的。所述校正算法控制电路的输出端反馈连接至校正模块。所述本振泄漏的校正方法是进行N比特逐次逼近算法获得IQ信号预直流偏置值，在正常发射时被自动载入到校正模块中。

主权项

1.一种本振泄漏校正装置，其特征在于：包括校正模块、本振泄漏检测模块、校正算法控制电路和校正参数存储模块；所述本振泄漏检测模块用于检测本振泄漏的信号强度；所述校正算法控制电路用于实现校正参数的逐次逼近，即在校正模块中分别叠加一个正的方向和负的方向的偏移量，该偏移量将引起本振泄漏信号强度的变化，依据本振泄漏信号强度的变化方向，对校正参数的每个比特位按照逐次逼近算法依次设置，从而获得校正参数；所述校正模块用于将校正算法控制电路的输出值或者校正参数存储模块中的存储值作为发射IQ直流的方向校正值，从而达到对本振泄漏校正的目的，其具有数字接口，于校正时输入“0”信号，该“0”信号的输入受控制于所述校正算法控制电路；所述校正参数存储模块用于存储校正算法最终获得的IQ信号预直流偏置值，当正常发射时，将被自动载入到校正模块中；所述校正算法控制电路的输出端反馈连接至校正模块。