[发明专利]厚度测量方法及设备有效
| 申请号： | 201811261601.2 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109059788B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 俞跃;蒋强 | 申请（专利权）人： | 中国特种设备检测研究院 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 孙静;刘芳 |
| 地址： | 100029 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供一种厚度测量方法及设备，该方法包括：通过对参考信号以及主脉冲信号和回波信号叠加获得的厚度测量信号进行自相关处理，获得各自的自相关结果，并根据所述厚度测量信号和所述参考信号各自的自相关结果，确定所述待测对象的厚度，可以准确的选取主脉冲信号的峰值点和回波信号的峰值点，避免了由于主脉冲信号的峰值点和回波信号的峰值点选取不准确，导致根据主脉冲信号的峰值点和回波信号的峰值点得到的待测对象的厚度不准确的问题，提高了所确定的待测对象厚度的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 厚度 测量方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种厚度测量方法，其特征在于，包括：获得时域光谱测量系统对处于预设介质中的待测对象进行厚度测量获得的厚度测量信号，以及所述时域光谱测量系统对所述预设介质进行厚度测量获得的参考信号，所述厚度测量信号为主脉冲信号和回波信号的叠加信号；对所述厚度测量信号和所述参考信号分别进行自相关处理，获得各自的自相关结果；根据所述厚度测量信号和所述参考信号各自的自相关结果，确定所述待测对象的厚度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国特种设备检测研究院，未经中国特种设备检测研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811261601.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
