[发明专利]一种多枚内存条并行应用性能测试装置在审
| 申请号： | 201811263466.5 | 申请日： | 2018-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN111104268A | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 包增利 | 申请（专利权）人： | 海太半导体（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人： | 赵华 |
| 地址： | 214000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种多枚内存条并行应用性能测试装置，包括主板、中央处理器、供电电源、存储数据单元、结构支架和固定内存治具，结构支架上水平设置有主板，对应主板上的内存条卡槽在主板上安装有固定内存治具，主板的一侧连接在安装在结构支架上的供电电源上，主板上安装有中央处理器并与内存条卡槽电连接，主板上安装的存储数据单元与内存条卡槽电连接，主板与测试架构单元和数据交汇单元进行数据交互。本发明实现一台功能性测试设备一次测试多枚内存，达到相同的设备测试更多的产品，提高人员效率，减少空间及搬运浪费，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存条 并行 应用 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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