[发明专利]高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置的测量方法有效
| 申请号： | 201811295092.5 | 申请日： | 2018-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN109030299B | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 刘伟;秦福元;王雅静;申晋;马立修;陈文钢 | 申请（专利权）人： | 山东理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 淄博佳和专利代理事务所(普通合伙) 37223 | 代理人： | 孙爱华 |
| 地址： | 255086 山东省淄博*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置的测量方法，属于颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：在样品池（1）的后侧依次设置有透镜（2）、激光器（4）和GRIN透镜（6），GRIN透镜（6）的输出端连接光电倍增管（10）的输入端，光电倍增管（10）的输出端连接光子相关器（11）的输入端；还设置有用于调节GRIN透镜（6）与样品池（1）之间间距的透镜调节装置，所述GRIN透镜（6）置于透镜调节装置内。通过本高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置的测量方法，入射光和散射光均位于样品池后侧，因此散射光不需要完全穿过样品池内的测试样品，减小了散射光程，降低了多次光散射效应，实现了高浓度样品的颗粒粒度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 浓度 样品 散射 纳米 颗粒 粒度 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.高浓度样品的后向散射纳米颗粒粒度测量装置，包括样品池（1），测试样品位于样品池（1）内，其特征在于：在样品池（1）的后侧依次设置有透镜（2）、激光器（4）和GRIN透镜（6），激光器（4）射出的入射光经透镜（2）进入样品池（1），散射后形成散射光自样品池（1）后端射出进入GRIN透镜（6），GRIN透镜（6）的输出端连接光电倍增管（10）的输入端，光电倍增管（10）的输出端连接光子相关器（11）的输入端；还设置有用于对GRIN透镜（6）接收散射光的位置进行调节的透镜调节装置，所述GRIN透镜（6）置于透镜调节装置内。
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