[发明专利]一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法有效
| 申请号： | 201811301062.0 | 申请日： | 2018-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN109406988B | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 谢朋翰;李冉 | 申请（专利权）人： | 成都天衡智造科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 徐丰;张巨箭 |
| 地址： | 610200 四川省成都市高新区中国（四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统及方法，属于IC测试领域，系统包括：模拟IC测试机台、测试夹具、示波器、数字IO板卡，所述测试夹具中放置有待测IC芯片；模拟IC测试机台与测试夹具双向连接，测试夹具的波形输出端与示波器连接，示波器的trigger输出端与数字IO板卡连接，数字IO板卡输出端与模拟IC测试机台连接，构成一个可快速定位芯片发生异常过冲位置的系统。本发明能够克服现有技术中无法统计待测芯片发生异常过冲的总次数，并能够快速定位待测IC芯片发生异常过冲的位置，大大提升了IC芯片测试效率，节约了时间和人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模拟 ic 测试 异常 快速 定位 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种模拟IC测试异常过冲快速定位分析系统，其特征在于，包括：模拟IC测试机台、测试夹具、示波器、数字IO板卡，待测IC芯片放置于测试夹具中；模拟IC测试机台与测试夹具双向连接，测试夹具的波形输出端与示波器连接，示波器的trigger输出端与数字IO板卡连接，数字IO板卡输出端与模拟IC测试机台连接。
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