[发明专利]存储装置在审
| 申请号： | 201811306234.3 | 申请日： | 2018-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN110021328A | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | 李汉埈;金承范;朴一汉 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/08 | 分类号： | G11C16/08;G11C8/08 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 李娜 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了一种存储装置，所述存储装置包括：向选定的字线提供读取电压并向多条未选定的字线提供通过电压的电压发生器；以及劣化水平检测电路。所述选定的字线和所述未选定的字线连接到多个存储单元。所述劣化水平检测电路基于接收到所述读取电压的存储单元的数据来检测连接到所述选定的字线的存储单元的劣化水平。连接到所述选定的字线的存储单元和接收到所述读取电压的存储单元包括在所述多个存储单元中。所述电压发生器基于所述劣化水平来改变提供给所述未选定的字线的所述通过电压。 | ||
| 搜索关键词： | 字线 存储单元 劣化 存储装置 读取电压 水平检测电路 电压发生器 改变提供 检测 | ||
【主权项】：
1.一种存储装置，所述存储装置包括：电压发生器，所述电压发生器向选定的字线提供读取电压并向多条未选定的字线提供通过电压，其中，所述选定的字线和所述未选定的字线连接到多个存储单元；以及劣化水平检测电路，所述劣化水平检测电路基于接收到所述读取电压的存储单元的数据来检测连接到所述选定的字线的存储单元的劣化水平，其中，连接到所述选定的字线的存储单元和接收到所述读取电压的存储单元包括在所述多个存储单元中，其中，所述电压发生器基于所述劣化水平来改变提供给所述未选定的字线的所述通过电压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811306234.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：由差动存储器胞组成的非易失性存储器
- 下一篇：存储器件
