[发明专利]一种芯片测试方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 201811307906.2 | 申请日： | 2018-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN109270439A | 公开（公告）日： | 2019-01-25 |
| 发明（设计）人： | 李拓;周恒钊 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试方法、装置、设备及介质。该方法的步骤包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各执行参数执行相应的数据生成函数，生成各测试输入端对应的测试数据；将各测试数据传入相应的测试输入端，以对待测芯片进行测试。本方法对于芯片的每个测试输入端均设置有相应的数据生成函数，进而各个测试输入端的测试数据均由该测试输入端对应的数据生成函数单独产生，进而保证了芯片测试的灵活性以及全面性。此外，本发明还提供一种芯片测试装置、设备及介质，有益效果同上所述。 | ||
| 搜索关键词： | 测试输入端 数据生成 测试数据 芯片测试 芯片 芯片测试装置 测试 参数执行 全面性 保证 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：对待测芯片中各测试输入端设置对应的数据生成函数及执行参数；分别基于各所述执行参数执行相应的所述数据生成函数，生成各所述测试输入端对应的测试数据；将各所述测试数据传入相应的所述测试输入端，以对所述待测芯片进行测试。
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