[发明专利]电子设备的测试电路和测试方法有效
| 申请号： | 201811316772.0 | 申请日： | 2018-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN109541434B | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 彭业开;肖国坤;庄健超;彭爱军 | 申请（专利权）人： | 广州三星通信技术研究有限公司;三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 于彬;孔敏 |
| 地址： | 510663 广东省广州市广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 提供一种电子设备的测试电路和测试方法，所述测试电路包括第一接口模块、第二接口模块和识别芯片，其中，第一接口模块用于在对电子设备的电路板进行测试时，获取与第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送电路板测试设备的接口信息到识别芯片；第二接口模块用于在对电子设备的整机进行测试时，获取与第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送整机测试设备的接口信息到识别芯片；识别芯片用于识别电路板测试设备的接口信息以得到电路板测试设备的接口类型，并将接口类型发送给电子设备的中央处理器，或者，识别芯片用于识别整机测试设备的接口信息以得到整机测试设备的接口类型。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子设备的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括第一接口模块、第二接口模块和识别芯片，其中，所述第一接口模块用于在对所述电子设备的电路板进行测试时，获取与所述第一接口模块相连接的电路板测试设备的接口信息，并发送所述电路板测试设备的接口信息到所述识别芯片；所述第二接口模块用于在对所述电子设备的整机进行测试时，获取与所述第二接口模块相连接的整机测试设备的接口信息，并发送所述整机测试设备的接口信息到所述识别芯片；所述识别芯片用于识别所述电路板测试设备的接口信息以得到所述电路板测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口，或者，所述识别芯片用于识别所述整机测试设备的接口信息以得到所述整机测试设备的接口类型，并将所述接口类型发送给所述电子设备的中央处理器，以使所述中央处理器基于所述接口类型开启相应的数据端口。
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