[发明专利]可量化光学特性管控方法、装置及可读存储介质有效
| 申请号： | 201811321970.6 | 申请日： | 2018-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN109358589B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 单剑锋 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/418 | 分类号： | G05B19/418 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种可量化光学特性管控方法、装置及可读存储介质，可量化光学特性管控方法包括：获取目标显示屏的光学特性数据，得到样本，经过计算处理，得到样本参数；采用预置的检验方法对所述样本参数以及所述预置基准样本参数进行分析；得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。通过本申请，使得在对显示屏可量化的光学特性的检测过程中，减少误判情况的发生，且不再需要人工依靠经验来进行判断，达到自动化管制的目的，能有效提高工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 量化 光学 特性 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述可量化光学特性管控方法包括：获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；采用预置的检验方法对所述样本参数以及所述预置基准样本参数进行分析；得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。
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