[发明专利]测试方法、装置和存储介质有效
| 申请号： | 201811341295.3 | 申请日： | 2018-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN109272911B | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 李超;张一凡 | 申请（专利权）人： | 成都中电熊猫显示科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 荣甜甜;刘芳 |
| 地址： | 610200 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试方法、装置和存储介质，该方法包括：控制每个晶体管开关的栅极电压在第一预设时间段内为第一电压，并控制每个晶体管开关的栅极电压在第二预设时间段内为关断电压，以将每个晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，第一预设时间段与第二预设时间段之和为晶体管开关的一个开关周期；控制每个晶体管开关的存储电容的电压在第一开关周期内为第二电压，控制每个晶体管开关公共电压在第一开关周期内为0V，使得测试面板中存在故障的像素块在第一开关周期内显示为第二亮度，第二电压大于源极电压。本发明的测试方法能够使得故障的像素块亮点化，使得操作人员便于在亮度暗的测试面板中检出显示为亮点的故障像素块。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体管开关 预设时间段 第一开关 像素块 测试面板 存储介质 栅极电压 测试 存储电容 公共电压 故障像素 关断电压 开关周期 亮度调整 源极电压 导通 检出 | ||
【主权项】：
1.一种测试方法，其特征在于，应用于测试面板，所述测试面板包括多个像素块，每个所述像素块对应一个晶体管开关，包括：控制每个所述晶体管开关的栅极电压在第一预设时间段内为第一电压，并控制每个所述晶体管开关的栅极电压在第二预设时间段内为关断电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述晶体管开关的源极电压的大小正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压，所述第一预设时间段与所述第二预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期；控制每个所述晶体管开关的存储电容的电压在第一开关周期内为第二电压，控制每个所述晶体管开关公共电压在所述第一开关周期内为0V，使得所述测试面板中存在故障的像素块在所述第一开关周期内显示为第二亮度，所述第二亮度的亮度值与所述第二电压的大小正相关，所述第二电压与所述源极电压的差值大于预设值。
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