[发明专利]半导体存储装置及其复位方法有效
申请号: | 201811351632.7 | 申请日: | 2018-11-14 |
公开(公告)号: | CN109841253B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 山内一贵 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 吴志红;臧建明 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明的半导体存储装置及其复位方法可防止在复位动作时主侧的存储芯片与从侧的存储芯片之间的忙碌状态的不一致。本发明的闪速存储器设备包含主侧的存储芯片与至少一个从侧的存储芯片。主侧的存储芯片的控制器基于自外部输入的地址来选择主侧的存储芯片或从侧的存储芯片,当输入有复位指令时,进行所选择的存储芯片的复位,且将自主侧的存储芯片的存储单元阵列的特定区域中读出的数据设定于寄存器中。控制器以对寄存器的数据设定所需要的时间比所选择的存储芯片的复位所需要的时间长的方式控制复位的读出。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 及其 复位 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其特征在于包含主侧的存储芯片与至少一个从侧的存储芯片,且所述主侧的存储芯片与所述从侧的存储芯片电性连接,所述主侧的存储芯片包括:设定部件,在所述从侧的存储芯片被选择,且自外部输入有特定的指令的情况下,设定标记信息;复位部件,当输入有复位指令时,以规定序列使所选择的存储芯片的动作结束,且将与动作条件有关的参数信息重新载入于所述主侧的存储芯片的寄存器中;检测部件,在设定有所述标记信息的情况下,检测是否自外部输入有复位指令;以及控制部件,在检测到所述复位指令的输入的情况下,以在所述从侧的存储芯片的规定序列结束后,结束对所述寄存器的所述参数信息的重新载入的方式控制所述复位部件,在所述主侧的存储芯片的参数信息的重新载入结束后,能够对所述从侧的存储芯片进行自外部的存取。
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