[发明专利]数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质有效
| 申请号： | 201811362805.5 | 申请日： | 2018-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN109531262B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 徐辉;肖俊杰 | 申请（专利权）人： | 深圳创源航天科技有限公司 |
| 主分类号： | B23Q15/22 | 分类号： | B23Q15/22;B23Q17/22 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国;邵柱 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种数控机床接触反馈式自动测量方法、系统和存储介质，所述数控机床接触反馈式自动测量方法包括以下步骤：获取测量机构的进给路径；根据所述进给路径，控制所述测量机构的测量触头分别与工件的多个采集点触接，以分别多次导通接触反馈电路；接收所述接触反馈电路产生的多个电信号，并记录所述测量触头对应的多个位置坐标信息；根据多个所述位置坐标信息，确定用于刀具找正的测量信息。本发明提供的技术方案中，通过测量触头与工件的接触即可导通接触反馈电路，从而自动获取对应的电信号以及位置坐标信息，根据多个所述位置坐标信息可自动计算出用于刀具找正的测量信息，无需人工进行繁琐计算，具有操作方便、成本低廉的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 数控机床 接触 反馈 自动 测量方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种数控机床接触反馈式自动测量方法，其特征在于，包括以下步骤：获取测量机构的进给路径；根据所述进给路径，控制所述测量机构的测量触头分别与工件的多个采集点触接，以分别多次导通接触反馈电路；接收所述接触反馈电路产生的多个电信号，并记录所述测量触头对应的多个位置坐标信息；根据多个所述位置坐标信息，确定用于刀具找正的测量信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳创源航天科技有限公司，未经深圳创源航天科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811362805.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
