[发明专利]用于减少衍射效应的互补孔径在审
申请号: | 201811385749.7 | 申请日: | 2018-11-20 |
公开(公告)号: | CN109919902A | 公开(公告)日: | 2019-06-21 |
发明(设计)人: | 姜洪 | 申请(专利权)人: | 诺基亚技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/62 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 酆迅;罗利娜 |
地址: | 芬兰*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种方法,该方法包括:确定用于利用成像设备执行测量的第一组孔径图案和第二组孔径图案,使得对于第一组孔径图案中的每个孔径图案,在第二组孔径图案中存在互补孔径图案,其中成像设备包括传感器和孔径组件,孔径组件具有多个孔径元件;通过以下针对第一组和第二组中的每个相应孔径图案执行测量:根据该相应孔径图案,改变与多个孔径元件中的一个或多个孔径元件相关联的属性;并且处理所执行的测量以提取关于图像的信息。 | ||
搜索关键词: | 孔径图案 孔径元件 成像设备 测量 衍射效应 传感器 关联 图像 | ||
【主权项】:
1.一种计算机实现的方法,包括:确定用于利用成像设备执行测量的第一组孔径图案和第二组孔径图案,使得对于所述第一组孔径图案中的每个孔径图案,在所述第二组孔径图案中存在互补孔径图案,其中所述成像设备包括传感器和孔径组件,所述孔径组件具有多个孔径元件;通过以下来针对所述第一组和所述第二组中的每个相应孔径图案执行测量:根据所述相应孔径图案,改变与所述多个孔径元件中的一个或多个孔径元件相关联的属性;以及处理所执行的所述测量以提取关于图像的信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于诺基亚技术有限公司,未经诺基亚技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811385749.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。