[发明专利]电子元件及其电测试方法有效
| 申请号： | 201811392233.5 | 申请日： | 2018-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN109860149B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 张智盈;饶瑞修 | 申请（专利权）人： | 南亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/525 | 分类号： | H01L23/525;H01L23/544;H01L21/66 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 黄艳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供一种电子元件及其电测试方法，电子元件包括：一基底；设置在该基底上方的一电子构件；以及设置在该基底上方的一电测试构件。该电子构件包括该基底上方的一底板和该底板上方的一顶板。该电测试构件包括一第一反熔丝结构及一第二反熔丝结构，其中该第一反熔丝结构及该第二反熔丝结构电连接至该底板。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件，包括：一基底；一电子构件，设置在该基底上方，包括：一底板，设置在该基底上方；一顶板，设置在该底板上方；以及一电测试构件，设置在该基底上方；其中该电测试构件是可熔的，经配置以选择性电连接到该电子构件的该底板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南亚科技股份有限公司，未经南亚科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811392233.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：分层多端口螺旋电感器
- 下一篇：半导体器件的测试电路及测试方法
