[发明专利]一种存储器芯片的检测方法、装置和终端有效
| 申请号： | 201811396700.1 | 申请日： | 2018-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN111209604B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 陆天辰;郭睿原 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/71 | 分类号： | G06F21/71;G06F21/79 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 陈建焕;武晨燕 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种存储器芯片的检测方法、装置和终端，所述方法包括：设置攻击模式和随机攻击参数；根据攻击模式和随机攻击参数生成随机攻击命令；根据随机攻击命令对存储器芯片进行攻击；对受到攻击后的存储器芯片进行检测，生成检测结果。能够根据需要模拟各种攻击方式，便于针对不同的攻击方式来对存储器芯片进行测试。由于攻击时能够对整个存储器芯片的随机化的任一存储单元进行攻击，因此，也能够针对整个存储器芯片进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 芯片 检测 方法 装置 终端 | ||
【主权项】：
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