[发明专利]通过EBSD技术提取晶体中特定晶面的方法有效
| 申请号： | 201811416039.6 | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN111220633B | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 李阁平;张英东;刘承泽;袁福森;韩福洲;穆罕默德·阿里;郭文斌;顾恒飞 | 申请（专利权）人： | 中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203;G01N23/2206;G01N23/2251 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人： | 张晨 |
| 地址： | 110015 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明的目的在于提供通过EBSD技术提取晶体中特定晶面的方法，包括以下步骤：1)制备EBSD样品；2)对EBSD样品进行扫描，获得选定的观察面的不同取向晶面的信息；3)通过CHANNEL5软件处理EBSD系统获取的不同取向晶面的信息：先通过软件得出该晶体的IPF图；再导出极图和反极图，选定我们要抽取那种类型晶面的极图，观察要抽出的晶面极图中心内晶粒的颜色，确定该晶面相对应的颜色表示；最后用本申请所叙述的方法提取出晶体中某种类型的晶面。通过该方法可以分析晶体内某种特殊晶面的尺寸、分布，对晶体枳构，晶体氧化腐蚀等方面的影响；同时，通过EBSD原位观察，实现不同热处理后，某些特殊晶面单独抽取，能够了解特殊晶面的形成、长大过程随温度的变化。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 ebsd 技术 提取 晶体 特定 方法 | ||
【主权项】：
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