[发明专利]形成半导体器件的方法在审
申请号: | 201811463659.5 | 申请日: | 2018-12-03 |
公开(公告)号: | CN109904121A | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 田炳焕;南象基 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;B82Y40/00 |
代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 李娜 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 提供了一种形成半导体器件的方法。形成半导体器件的方法可以包括:在衬底上形成第一晶种图案;在所述第一晶种图案上形成第一纳米棒结构;以及形成围绕所述第一纳米棒结构的第一侧表面同时暴露所述第一纳米棒结构的第一上表面的模制结构。所述第一纳米棒结构可以包括顺序堆叠在所述第一晶种图案上的多个纳米棒。所述多个纳米棒可以包括从所述第一晶种图案生长的最下部的纳米棒和形成在所述最下部的纳米棒上的多个上部纳米棒。所述模制结构可以包括围绕所述最下部的纳米棒的第二侧表面的最下部的模制层和顺序堆叠在所述最下部的模制层上的多个上部模制层。所述多个上部模制层中的至少一个上部模制层由与另一上部模制层的材料不同的材料形成。 | ||
搜索关键词: | 模制层 纳米棒 纳米棒结构 晶种 半导体器件 图案 模制结构 顺序堆叠 侧表面 材料形成 上表面 衬底 暴露 生长 | ||
【主权项】:
1.一种形成半导体器件的方法,所述方法包括:在衬底上形成第一晶种图案;在所述第一晶种图案上形成第一纳米棒结构;以及形成围绕所述第一纳米棒结构的第一侧表面同时暴露所述第一纳米棒结构的第一上表面的模制结构,其中,所述第一纳米棒结构包括顺序堆叠在所述第一晶种图案上的多个纳米棒,其中,所述多个纳米棒包括:从所述第一晶种图案生长的最下部的纳米棒,以及形成在所述最下部的纳米棒上的多个上部纳米棒,所述多个上部纳米棒中的每个上部纳米棒是从相对于该上部纳米棒的相对较低的纳米棒生长的,其中,所述模制结构包括:围绕所述最下部的纳米棒的第二侧表面同时暴露所述最下部的纳米棒的第二上表面的最下部的模制层,以及顺序堆叠在所述最下部的模制层上的多个上部模制层,所述多个上部模制层分别对应于所述多个上部纳米棒,并且分别围绕所述多个上部纳米棒的侧表面,其中,所述多个上部模制层中的至少一个上部模制层由与另一上部模制层的材料不同的材料形成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造