[发明专利]EMI测试方法及系统在审
| 申请号： | 201811467390.8 | 申请日： | 2018-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN109375023A | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | 许传停;张坤 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了EMI测试方法及系统，属于电子领域。本发明采用承载有待测设备的测试转盘以3min‑10min的周期旋转，根据测试转盘的旋转周期对待测设备的EMI测试数据进行采样，获取采样数据，从而可获取大量的EMI测试数据，提升了EMI测试数据的准确性，以便于根据获取的大量EMI测试数据对待测设备的EMI性能进行分析。 | ||
| 搜索关键词： | 测试转盘 采样数据 电子领域 旋转周期 采样 承载 分析 | ||
【主权项】：
1.一种EMI测试方法，在测试环境中提供一测试转盘，其特征在于，所述方法包括下述步骤：承载有待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期的范围为：3min‑10min；以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试数据进行采样，获取采样数据。
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