[发明专利]波形显示装置及历史波形统计方法有效
| 申请号： | 201811487534.6 | 申请日： | 2018-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN109765411B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 周立功;杨炯 | 申请（专利权）人： | 广州致远电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R13/02 | 分类号： | G01R13/02 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 510000 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于数据测量与处理技术领域，提供了波形显示装置及历史波形统计方法，包括：第一处理单元和第二处理单元，第一处理单元包括参数测量模块，第二处理单元包括历史测量统计模块和波形显示模块。参数测量模块，用于测量波形帧数据的波形参数得到参数测量结果；历史测量统计模块用于从参数测量模块获取并统计位于历史测量范围内的多个波形帧数据的参数测量结果生成统计列表；波形显示模块用于显示统计列表，并根据查看指令调取并显示与查看指令对应的待查看的波形帧数据的波形。本发明的技术方案结合两个处理单元，能够加快运算处理速度，同时方便查看历史波形参数测量结果，也便于快速查找出异常数据并查看异常波形。 | ||
| 搜索关键词： | 波形 显示装置 历史 统计 方法 | ||
【主权项】：
1.一种波形显示装置，其特征在于，包括第一处理单元和第二处理单元，所述第一处理单元包括参数测量模块，所述第二处理单元包括历史测量统计模块和波形显示模块，其中，所述参数测量模块，用于对位于历史测量范围的多个波形帧数据的波形参数进行测量，并得到多个所述波形帧数据的参数测量结果；所述历史测量统计模块与所述参数测量模块连接，用于获取历史统计指令，并根据所述历史统计指令，从所述参数测量模块获取并统计位于所述历史测量范围内的多个所述波形帧数据的参数测量结果，生成统计列表；所述波形显示模块与所述历史测量统计模块连接，用于显示所述历史测量统计模块生成的所述统计列表，并检测用户基于所述统计列表触发的查看指令，根据所述查看指令调取与所述查看指令对应的待查看的波形帧数据，并显示所述待查看的波形帧数据的波形。
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