[发明专利]外观检查装置以及外观检查装置的照明条件设定方法在审

专利信息
申请号: 201811509322.3 申请日: 2018-12-11
公开(公告)号: CN110186926A 公开(公告)日: 2019-08-30
发明(设计)人: 林信吾 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;臧建明
地址: 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种外观检查装置以及外观检查装置的照明条件设定方法,即便不具备充分的光学知识或经验,也能够在外观检查装置中设定最优照明条件。本外观检查装置具有照明部,将照明光照射于被检查物;摄像部,对被检查物进行拍摄;缺陷检测部,对由摄像部所拍摄的被检查物的图像进行分析,检测被检查物的缺陷;照明条件设定部,设定照射于被检查物的照明光的照明条件;以及最优照明条件导出部,根据利用多个不同的所述照明条件所拍摄的图像对各照明条件进行评分,由此导出最优照明条件,此最优照明条件是最适于缺陷检测部检测被检查物的缺陷的照明条件。
搜索关键词: 照明条件 外观检查装置 被检查物 缺陷检测部 摄像部 照明光 拍摄 照射 图像 光学知识 导出部 照明部 检测 导出 分析
【主权项】:
1.一种外观检查装置,其特征在于,包括:照明部,将照明光照射于被检查物;摄像部,对所述被检查物进行拍摄;缺陷检测部,对由所述摄像部所拍摄的所述被检查物的图像进行分析,检测所述被检查物的缺陷;照明条件设定部,设定照射于所述被检查物的所述照明光的照明条件;以及最优照明条件导出部,根据利用多个不同的所述照明条件所拍摄的图像对各照明条件进行评分,由此导出最优照明条件,所述最优照明条件为最适于所述缺陷检测部检测所述被检查物的缺陷的照明条件。
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