[发明专利]一种背光检中缺陷显示方法在审
| 申请号： | 201811524227.0 | 申请日： | 2018-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN109613004A | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 陈武;张胜森;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 胡琦旖 |
| 地址： | 430070 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于缺陷检测技术领域，公开了一种背光检中缺陷显示方法，包括以下步骤：根据AOI检测得到的缺陷坐标信息，在BLU图档中截取第一区域，获得第一缺陷图；对第一缺陷图进行放大或增强处理，得到第二缺陷图；将第二缺陷图绘制于BLU图档的第一区域中，得到缺陷显示图。本发明能够极大地缓解人眼疲劳，提高工作效率，降低时间成本，能够快速、准确地进行缺陷评估，进而提高AOI缺陷检测系统性能测试的效率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷图 缺陷显示 背光 第一区域 图档 缺陷检测技术 缺陷检测系统 工作效率 缺陷评估 缺陷坐标 人眼疲劳 时间成本 性能测试 增强处理 截取 放大 绘制 缓解 | ||
【主权项】：
1.一种背光检中缺陷显示方法，其特征在于，包括以下步骤：根据AOI检测得到的缺陷坐标信息，在BLU图档中截取第一区域，获得第一缺陷图；对所述第一缺陷图进行放大或增强处理，得到第二缺陷图；将所述第二缺陷图绘制于所述BLU图档的所述第一区域中，得到缺陷显示图。
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