[发明专利]显示面板及其制作方法有效
申请号: | 201811546661.9 | 申请日: | 2018-12-18 |
公开(公告)号: | CN109659277B | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 明星;陈彩琴;王一伊 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12;H01L23/544 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种显示面板及其制作方法,所述显示面板的制作方法包括:提供一基板,所述基板包括显示区域和非显示区域,所述非显示区域内设置有覆晶薄膜和测试结构;所述测试结构包括测试点和测试电路,所述测试电路包括信号走线,所述信号走线包括相互连接的非金属走线和金属走线,所述信号走线上设置有切割线;通过所述测试结构对所述基板的显示区域进行测试;沿着所述切割线将所述测试点除掉;其中,所述显示面板的信号走线包括非金属走线。本发明通过将信号走线设置为金属走线和非金属走线相结合的方式,使得在完成显示面板测试后,能够在不侵蚀金属线路的前提下,将测试点去掉以简化显示面板的结构,降低静电损伤的发生率。 | ||
搜索关键词: | 显示 面板 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种显示面板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S10、提供一基板,所述基板包括显示区域和设置在所述显示区域外侧的非显示区域,所述非显示区域内设置有覆晶薄膜和测试结构;所述测试结构包括:位于所述覆晶薄膜远离所述显示区域的一侧的测试点;位于所述测试点与所述覆晶薄膜之间的测试电路,包括连接所述覆晶薄膜和所述测试点的信号走线,所述信号走线包括相互连接的非金属走线和金属走线,所述信号走线上设置有切割线;步骤S20、通过所述测试结构对所述基板的显示区域进行测试;步骤S30、沿着所述切割线将所述测试点除掉,形成显示面板;其中,所述显示面板的信号走线包括非金属走线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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