[发明专利]用于矫正包含集成电路芯片的塑封平板翘曲的承载结构在审
申请号: | 201811562107.X | 申请日: | 2018-12-19 |
公开(公告)号: | CN109768003A | 公开(公告)日: | 2019-05-17 |
发明(设计)人: | 姚大平 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 朱静谦 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及矫正技术领域,具体涉及一种用于矫正包含集成电路芯片的塑封平板翘曲的承载结构,包括:气道层,气道层的上表面形成有用于承载塑封平板的承载区,承载区为平面设置,还包括设置于承载区下方的第一流道;加热层,设置于气道层下方,加热层设置有形成加热区的加热结构,加热区与承载区对应设置,且加热结构与第一流道交错分布,以使塑封平板受热均匀。其中矫正装置包括:承载结构,还包括设置于承载结构上方的压制平台,压制平台沿垂直于所述承载区方向往复移动,用于对下方的塑封平板施加压力。本发明的用于矫正包含集成电路芯片的塑封平板翘曲的承载结构对塑封平板的加热较为均匀、矫正后的塑封平板的平整化程度较高。 | ||
搜索关键词: | 塑封 承载结构 承载区 矫正 集成电路芯片 气道 翘曲 第一流道 加热结构 加热层 加热区 压制 交错分布 矫正装置 平面设置 施加压力 受热均匀 平整化 上表面 加热 承载 垂直 | ||
【主权项】:
1.用于矫正包含集成电路芯片的塑封平板翘曲的承载结构,其特征在于,包括:气道层(1),所述气道层(1)的上表面形成有用于承载所述塑封平板(7)的承载区,所述承载区为平面设置,还包括设置于所述承载区下方的第一流道;加热层(2),设置于所述气道层(1)下方,所述加热层(2)设置有形成加热区的加热结构,所述加热区与所述承载区对应设置,且所述加热结构与所述第一流道交错分布,以使所述塑封平板受热均匀。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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