[发明专利]一种基于向量分析的相机光学一致性评估方法有效
| 申请号： | 201811564940.8 | 申请日： | 2018-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN109829949B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 王思俊;刘琰;高旭麟;李俊龙 | 申请（专利权）人： | 天津天地伟业信息系统集成有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/80 | 分类号： | G06T7/80;G06V10/74 |
| 代理公司： | 天津企兴智财知识产权代理有限公司 12226 | 代理人： | 韩敏 |
| 地址： | 300384 天津市滨海新区高新区华*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于向量分析的相机光学一致性评估方法，包括：S1、利用Z‑F生产采集模块采集相机不同变倍下实际采样点的特征值，采集n个实际采样点的特征值；S2、把n个实际采样点的特征值与预先存储在设备flash中的标准机芯对应的n个理想采样点的特征值进行类余弦运算，根据公式结果，越接近1说明该相机的一致性越统一。本发明所述的基于向量分析的相机光学一致性评估方法基于向量和特征值的形式进行光学一致性评估，不仅效率更加高效，而且评估结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 向量 分析 相机 光学 一致性 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于向量分析的相机光学一致性评估方法，其特征在于，包括：S1、利用Z‑F生产采集模块采集相机不同变倍下实际采样点的特征值，采集n个实际采样点的特征值；S2、把n个实际采样点的特征值与预先存储在设备flash中的标准机芯对应的n个理想采样点的特征值进行类余弦运算，根据公式结果，越接近1说明该相机的一致性越统一。
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