[发明专利]一种内建自测试电路及存储器有效
| 申请号： | 201811564993.X | 申请日： | 2018-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN111354412B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 陈巍巍;陈岚;尤云霞;秦毅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种内建自测试电路及存储器。该内建自测试电路，包括：数字压控振荡器，用于生成高频时钟信号；时钟信号控制模块，用于在高速测试时，将高频时钟信号输入地址输入通道、数据输入通道、输出通道和被测设备；地址输入通道，用于根据时钟信号控制模块输入的时钟信号，将测试地址信号输入被测设备；数据输入通道，用于根据时钟信号控制模块输入的时钟信号，将测试数据信号输入被测设备；输出通道，用于接收并输出被测试设备的输出信号。内建自测试电路中集成了数字压控振荡器，为测试提供高频时钟信号，降低了对测试机台提供的测试时钟的频率要求，简化了外围设备，缩短了测试时间，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电路 存储器 | ||
【主权项】：
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