[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备和存储介质有效
| 申请号： | 201811574185.1 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109671075B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 戴嵘 | 申请（专利权）人： | 广州视源电子科技股份有限公司;广州镭晨智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06T5/50 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 510530 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：获取待测对象的目标图像；确定目标图像的基面图像，基面图像通过对目标图像基面拟合得到；确定目标图像的矫正图像，矫正图像根据基面图像得到；基于矫正图像得到待测对象表面的缺陷检测结果。本发明实施例解决了现有技术中因光照不均匀引起的成像问题，有效提高了缺陷检测的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测对象的目标图像；确定所述目标图像的基面图像，所述基面图像通过对所述目标图像基面拟合得到；确定所述目标图像的矫正图像，所述矫正图像根据所述基面图像得到；基于所述矫正图像得到所述待测对象表面的缺陷检测结果。
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