[发明专利]一种阈值电压调试方法、装置及电子设备有效
| 申请号： | 201811582329.8 | 申请日： | 2018-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN109671466B | 公开（公告）日： | 2021-01-01 |
| 发明（设计）人： | 郑文霞 | 申请（专利权）人： | 湖南国科微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 范彦扬 |
| 地址： | 410000 湖南省长沙市*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明实施例提出一种阈值电压调试方法、装置及电子设备，涉及存储数据纠错领域。该方法包括：获取步骤以及校验步骤，获取步骤包括依据阈值电压获取存储于存储单元的原始电压数据对应的存储数据。校验步骤包括对存储数据进行校验纠错。当校验纠错失败且校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，调整阈值电压并重新执行获取步骤和校验步骤直至存储数据校验纠错成功。在纠错编码对存储数据进行差错检测失败且校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，由于通过调整阈值电压直至校验纠错成功，解决仅采用纠错编码进行差错检测会导致纠错性能变差甚至不能纠错的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阈值 电压 调试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种阈值电压调试方法，其特征在于，所述方法包括：获取步骤：依据阈值电压获取存储于存储单元的原始电压数据对应的存储数据；校验步骤：对所述存储数据进行校验纠错；当所述校验纠错失败且所述校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，调整所述阈值电压并重新执行所述获取步骤和所述校验步骤直至所述存储数据校验纠错成功；当所述校验纠错失败且所述校验纠错的累计失败次数大于所述预设阈值时，则判断所述存储单元失效，结束阈值电压地调试。
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