[发明专利]一种光模块参数配置方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201811603013.2 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109449727B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 郑林;彭智祥;刘树文;王艳红 申请(专利权)人: 东莞铭普光磁股份有限公司
主分类号: H01S3/00 分类号: H01S3/00;H01S5/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 523343 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种光模块参数配置方法、装置、设备及存储介质,包括:将光模块放置在高温环境下,当MCU温度指针达到目标工作温度时,调节激光器核心温度值、偏压电流值和VEA值,使光模块的光功率、消光比、通道代价满足目标值;以光模块中MCU温度指针为索引,根据服务器上预先存储的数据库中激光器核心温度值、VEA值与调节后的激光器核心温度值、VEA值的对应关系,动态更新本地数据库中激光器核心温度值、VEA值;在常温和低温下分别测试光模块的光功率、消光比和通道代价,若性能正常,则完成参数配置。本申请通过上述步骤将带EML激光器的光模块在高温调试和常温低温测试,即能制作成品率高和合格率高的产品。
搜索关键词: 一种 模块 参数 配置 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种光模块参数配置方法,其特征在于,包括:将光模块放置在高温环境下,当所述光模块中MCU温度指针达到目标工作温度时,调节EML激光器核心温度值、偏压电流值和VEA值,使所述光模块的光功率、消光比、通道代价满足目标值;以所述光模块中MCU温度指针为索引,保持偏压电流值不变,根据服务器上预先存储的数据库中EML激光器核心温度值、VEA值与调节后的EML激光器核心温度值、VEA值的对应关系,动态更新本地数据库中EML激光器核心温度值、VEA值;根据更新后的本地数据库中的参数,在常温和低温下分别测试所述光模块的光功率、消光比和通道代价,若性能正常,则完成参数配置。
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