[发明专利]GaN HEMT漏极控制电路及设备有效

专利信息
申请号: 201811619641.X 申请日: 2018-12-28
公开(公告)号: CN109768789B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 谢路平;樊奇彦;刘江涛;李合理 申请(专利权)人: 京信网络系统股份有限公司
主分类号: H03K17/687 分类号: H03K17/687
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 关志琨
地址: 510663 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及一种GaN HEMT漏极控制电路及设备。GaN HEMT漏极控制电路,包括:漏压开关驱动电路以及第一N型MOS管。漏压开关驱动电路的第一输入端用于连接外部电源,第二输入端用于接入漏压控制信号,第一输出端连接第一N型MOS管的栅极,第二输出端连接第一N型MOS管的漏极,第三输出端连接所述第一N型MOS管的源极;第一N型MOS管的源极用于连接GaN HEMT的漏极。基于上述结构,漏压开关驱动电路接收漏压控制信号,输出驱动信号给第一N型MOS管的栅极,控制第一N型MOS管漏源两极的通断;利用第一N型MOS管来控制GaN HEMT漏压的开与关,能够实现漏压开关的高速切换,同时,可降低漏极电源开关的损耗以及电路成本,提高电路的可靠性和效率。
搜索关键词: gan hemt 控制电路 设备
【主权项】:
1.一种GaN HEMT漏极控制电路,其特征在于,包括:漏压开关驱动电路以及第一N型MOS管;所述漏压开关驱动电路的第一输入端用于连接外部电源,所述漏压开关驱动电路的第二输入端用于接入漏压控制信号;所述漏压开关驱动电路的第一输出端连接所述第一N型MOS管的栅极,所述漏压开关驱动电路的第二输出端连接所述第一N型MOS管的漏极,所述漏压开关驱动电路的第三输出端连接所述第一N型MOS管的源极;所述第一N型MOS管的源极用于连接GaN HEMT的漏极。
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